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嵌入式实时系统调试

编号:
wx1202890673
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商品介绍

通过对真实案例的学习和对专业工具(例如逻辑分析仪、JTAG调试器和性能分析仪)的广泛研究,本书提出了调试实时系统的实践方法。它遵循嵌入式系统的传统设计生命周期原理,指出了哪里会导致错误,进一步阐述如何在将来的设计中发现和避免错误。它还研究了应用程序性能监控、单个程序运行跟踪记录以及多任务OS中单独运行应用的其它的调试和控制方法。

译者序<br />前言<br />第1章  问题在何处  / 1<br />参考文献  / 8<br />第2章  系统化的调试方法  / 9<br />2.1  调试的六个阶段  / 9<br />2.1.1  谁有故障  / 12<br />2.1.2  我遇到过的一个缺陷  / 12<br />2.2  参考文献  / 22<br />第3章  嵌入式软件调试的很好实践  / 23<br />3.1  引言  / 23<br />3.2  造成嵌入式系统与众<br />     不同的原因  / 24<br />3.2.1  嵌入式系统专门用于特定<br />    的任务,而PC是通用的<br />    计算平台  / 24<br />3.2.2  软件失效在嵌入式系统中<br />    造成的影响要比在桌面系<br />    统中严重得多  / 24<br />3.2.3  嵌入式系统具有实时性约束  / 25<br />3.2.4  嵌入式系统可被各式各样<br />    的处理器以及处理器架构<br />    支持  / 26<br />3.2.5  嵌入式系统通常对成本<br />    非常敏感  / 26<br />3.2.6  嵌入式系统具有功耗  / 27<br />3.2.7  嵌入式系统必须能在特别<br />    环境下工作  / 27<br />3.2.8  嵌入式系统的资源要比桌面<br />    系统少得多  / 27<br />3.2.9  嵌入式微处理器通常具有<br />    专用调试电路  / 27<br />3.2.10  如果嵌入式系统用到了操作<br />    系统,那么它所用的很可能<br />    是实时操作系统  / 28<br />3.3  嵌入式系统调试的很好实践  / 28<br />3.4  通用软件调试很好实践  / 32<br />3.5  嵌入式软件调试很好实践  / 36<br />3.6  内存泄漏  / 37<br />3.7  时钟抖动  / 39<br />3.8  优先级反转  / 40<br />3.9  栈溢出  / 40<br />3.10  本章小结  / 41<br />3.11  拓展读物  / 42<br />3.12  参考文献  / 43<br />第4章  调试嵌入式硬件的很好实践  / 44<br />4.1  概述  / 44<br />4.2  硬件调试过程  / 44<br />4.3  设计评审  / 45<br />4.4  测试计划  / 47<br />4.5  可测试性设计  / 49<br />4.6  构建流程  / 50<br />4.7  了解你的工具  / 53<br />4.8  微处理器设计很好实践  / 57<br />4.8.1  引言  / 57<br />4.8.2  可测试性设计  / 57<br />4.8.3  考虑PCB问题  / 58<br />4.9  本章小结  / 63<br />4.10  拓展读物  / 64<br />4.11  参考文献  / 64<br />第5章  嵌入式设计与调试工具概览  / 66<br />5.1  概述  / 66<br />5.2  调试器  / 66<br />5.3  软硬件协同验证  / 69<br />5.4  ROM仿真器  / 73<br />5.5  逻辑分析仪  / 77<br />5.6  逻辑分析仪的优势  / 84<br />5.7  逻辑分析仪的问题  / 84<br />5.8  在线仿真器  / 85<br />5.9  拓展读物  / 89<br />5.10  参考文献  / 89<br />第6章  硬件/软件集成阶段  / 90<br />6.1  概述  / 90<br />6.2  硬件/软件集成图  / 90<br />6.3  非标准硬盘驱动器接口的案例  / 91<br />6.4  向量显示器的最后关头  / 92<br />6.5  性能差劲的仿真器卡笼  / 92<br />6.6  功能蠕变和大客户  / 93<br />6.7  参考文献  / 108<br />第7章  片上调试资源  / 110<br />7.1  概述  / 110<br />7.2  后台调试模式  / 111<br />7.3  JTAG  / 112<br />7.4  MIPS EJTAG  / 115<br />7.5  本章小结  / 116<br />7.6  参考文献  / 118<br />第8章  片上系统  / 119<br />8.1  概述  / 119<br />8.2  现场可编程门阵列  / 120<br />8.3  虚拟化  / 126<br />8.4  本章小结  / 129<br />8.5  拓展读物  / 130<br />8.6  参考文献  / 130<br />第9章  隔离缺陷的测试方法  / 131<br />9.1  概述  / 131<br />9.2  查找问题的障碍  / 131<br />9.3  临时应急  / 132<br />9.4  寻求帮助  / 132<br />9.5  故障隔离  / 133<br />9.5.1  了解你的工具  / 134<br />9.5.2  理解你的设计  / 136<br />9.6  与性能相关的故障  / 137<br />9.7  可复现故障  / 137<br />9.8  间歇性故障  / 138<br />9.9  合规故障  / 141<br />9.10  扩频振荡器  / 142<br />9.11  热故障  / 144<br />9.12  机械问题  / 146<br />9.13  与供电相关的故障  / 147<br />9.14  本章小结  / 149<br />9.15  参考文献  / 151<br />第10章  调试实时操作系统  / 152<br />10.1  概述  / 152<br />10.2  RTOS中的缺陷  / 152<br />10.3  同步问题  / 153<br />10.4  内存崩溃  / 154<br />10.5  与中断相关的问题  / 155<br />10.6  意想不到的编译器优化  / 157<br />10.7  异常  / 157<br />10.8  RTOS感知工具:一个示例  / 159<br />10.9  参考文献  / 163<br />第11章  串行通信系统  / 164<br />11.1  引言  / 164<br />11.2  RS-232  / 165<br />11.3  错误的COM端口分配  / 165<br />11.4  不正确的电缆引脚  / 166<br />11.5  错误的波特率(时钟频率)  / 166<br />11.6  不正确的流控  / 167<br />11.7  I2C和SMBus协议  / 168<br />11.8  SPI协议  / 171<br />11.9  工具  / 174<br />11.10  控制器局域网络(CAN总线)  / 174<br />11.11  本章小结  / 175<br />11.12  拓展读物  / 175<br />11.13  参考文献  / 175<br />第12章  存储器系统  / 177<br />12.1  概述  / 177<br />12.2  通用测试策略  / 177<br />12.3  静态RAM  / 178<br />12.4  动态RAM  / 183<br />12.5  软错误  / 186<br />12.6  抖动  / 188<br />12.7  基于软件的存储器错误  / 189<br />12.8  本章小结  / 190<br />12.9  参考文献  / 191<br />缩略语  / 192

商品参数
基本信息
出版社 机械工业出版社
ISBN 9787111727033
条码 9787111727033
编者 阿诺德 · S.伯格(Arnold S.Berger)
译者 杨鹏,胡训强
出版年月 2023-05-01 00:00:00.0
开本 16开
装帧 平装
页数 193
字数 291
版次 1
印次 1
纸张
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