扫描探针电化学

扫描探针显微镜是从微观层面研究电化学界面的一类重要工具。本书全面涵盖了各类应用于电化学领域的扫描探针显微术的工作原理、发展历程及其科学价值。本书的出版旨在推动电化学与扫描探针显微术两个领域的融合与发展。

本书不仅适用于电化学相关专业的高年级本科生、研究生及研究人员了解扫描探针显微术在电化学界面研究中的作用，而且可以为扫描探针显微术领域的研究人员推动方法学的创新发展提供参考。

第1章 引言 1

1.1 扫描探针显微术发展简史 1

1.2 扫描探针显微术形貌成像 2

1.2.1 扫描隧道显微镜 2

1.2.2 原子力显微镜 3

1.3 扫描探针显微术功能成像 5

1.3.1 力学功能成像 5

1.3.2 电学功能成像 6

1.3.3 化学功能成像 8

1.4 总结与展望 10

参考文献 11

第2章 扫描电化学微探针原理及应用 13

2.1 扫描电化学显微术（SECM） 13

2.1.1 SECM工作模式 13

2.1.2 SECM仪器 17

2.1.3 SECM应用 19

2.2 垂直（Z方向）扫描微电极技术（VSMET） 22

2.2.1 VSMET微电极 23

2.2.2 VSMET测试系统 25

2.2.3 VSMET电位/电流分布测试 26

2.2.4 VSMET电位分布测量 27

2.2.5 局部电场对VSMET电位分布的影响 30

2.2.6 VSMET的应用 32

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