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本书作者将光电子器件封装和测试两方面技术纳入书中,重点讨论半导体激光器、调制器和光探测器这三种典型高速光电子器件的微波封装设计,网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法,数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法,光电子器件本征响应特性分析和应用,光谱与频谱分析技术,光注入技术及其应用等方面问题。本书主要讨论的内容除了强调系统性和实用性外,更强调学科的前沿性。本书的出版能够满足科研和工程技术人员的需要,使读者能够尽快掌握本书介绍的方法,提高我国高速光电子器件封装和测试技术的研究开发水平。
基本信息 | |
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出版社 | 科学出版社 |
ISBN | 9787030330048 |
条码 | 9787030330048 |
编者 | 祝宁华 |
译者 | -- |
出版年月 | 2021-01-01 00:00:00.0 |
开本 | 16开 |
装帧 | 平装 |
页数 | 456 |
字数 | 542000 |
版次 | 43 |
印次 | 3 |
纸张 |
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